Productdetails
Place of Origin: China
Merknaam: zmsh
Betalings- en verzendvoorwaarden
Materiaal: |
> 99,99% saffierkristal |
Diameter: |
200 mm±0,2 mm |
Thickness: |
725±25um |
Orientation: |
C-Plane <0001> |
TTV: |
≤15um |
WRAP: |
≤30um |
BOW: |
-30~10um |
Materiaal: |
> 99,99% saffierkristal |
Diameter: |
200 mm±0,2 mm |
Thickness: |
725±25um |
Orientation: |
C-Plane <0001> |
TTV: |
≤15um |
WRAP: |
≤30um |
BOW: |
-30~10um |
8" saffieren wafer 200 mm diameter (± 0,2 mm), 725 μm dikte, C-vlak, 99,99% puur
Deze hoogzuivere 8-inch (200 mm) saffieren wafer heeft een uitzonderlijke dimensionale precisie (± 0,2 mm in diameter, 725 μm dikte) en een kristallografische oriëntatie (C-vlak),waardoor het ideaal is voor veeleisende opto-elektronica- en halfgeleidertoepassingenMet een zuiverheid van 99,99% en een superieure mechanische/thermische stabiliteit dient de wafer als een optimaal substraat voor de fabricage van LED-, laserdiode- en RF-apparaten.De gelijkmatige afwerking van het oppervlak en de chemische traagheid zorgen voor betrouwbaarheid in ruwe omgevingen, terwijl de grote diameter kosteneffectieve massaproductie mogelijk maakt.
Belangrijkste kenmerken van saffierwafels
Geometrie van precisie:
Kristallografische uitmuntendheid:
Ultra-hoge zuiverheid:
Robuuste materiële eigenschappen:
Oppervlakte kwaliteit:
Toepassingen van saffierwafels
Opto-elektronica:
Substraat voor blauwe/groene/witte LED's (InGaN/GaN-epitaxie).
Laserdioden (randemitterende/VCSEL's) in beeldschermen en communicatie.
Elektronica:
RF-apparaten (5G/6G antennes, vermogenversterkers) vanwege een laag dielektrisch verlies.
Transistoren met een hoge elektronenmobiliteit (HEMT's) voor elektrische voertuigen.
Industrie en defensie:
IR-vensters, raketkoepels (sapphire's transparantie tot midden-IR).
Beschermingsbedekkingen voor sensoren in corrosieve/abrasieve omgevingen.
Opkomende technologieën:
Quantumcomputing (SPD-kristallen substraten).
draagbare apparaat-schermen (krabvast hoesje).
Specificaties
Parameter |
Waarde |
---|---|
Diameter | 200 mm ± 0,2 mm |
Dikte | 725 μm ± 25 μm |
Oriëntatie | C-vlak (0001) ±0,2° |
Zuiverheid | > 99,99% (4N) |
Ruwheid van het oppervlak (Ra) | < 0,3 nm (epi-klaar) |
TTV | ≤ 15um |
WARP | ≤ 30 mm |
BOW | -30~10um |
V&A
V1: Waarom kiezen we voor C-vlak saffier voor GaN-epitaxie?
A1:De zeshoekige symmetrie van het C-vlak komt overeen met de kristallenstructuur van GaN, waardoor de niet-match van het rooster wordt verminderd en een hoogwaardige epitaxiale groei voor LED's en energieapparaten mogelijk wordt gemaakt.
V2: Hoe heeft dikte (725 μm) invloed op de waferprestaties?
A2:725 μm brengt mechanische stabiliteit (vermindering van breuk tijdens de behandeling) in evenwicht met thermische geleidbaarheid, wat cruciaal is voor een uniforme warmteafvoer in MOCVD-processen.
V3: Kan deze wafer worden gebruikt voor lasertoepassingen met een hoog vermogen?
A3:De hoge thermische geleidbaarheid en transparantie bij UV-NIR-golflengten maken het geschikt voor laserdioden en optische ramen.
Q4:Zijn er aangepaste oriëntatiepunten (bv. R-vlak) beschikbaar?
A5:A-plane, R-plane en M-plane wafers kunnen worden aangepast voor gespecialiseerde toepassingen zoals SAW-apparaten.