| Merknaam: | ZMSH |
| MOQ: | 10 |
| Leveringstermijn: | 2-4 weken |
| Betalingsvoorwaarden: | T/T |
De SiC Dummy Wafer (Silicon Carbide Carrier Wafer / Process Monitor Wafer) is een proceswafer met hoge duurzaamheid, ontworpen voor kwalificatie van halfgeleiderapparatuur, kamerkruiden, thermische stabilisatie, procesverificatie en bescherming van productiewafels.
In tegenstelling tot wafers van apparaatkwaliteit die worden gebruikt voor de fabricage van chips, functioneren SiC-dummywafels als hulpwafels binnen halfgeleiderprocestools om het kamerevenwicht te behouden, de thermische distributie te optimaliseren en de herhaalbaarheid van processen te verbeteren tijdens geavanceerde productieactiviteiten.
Dankzij de uitzonderlijke thermische geleidbaarheid, mechanische sterkte en chemische stabiliteit van siliciumcarbide zijn SiC-dummywafels bijzonder geschikt voor zware halfgeleideromgevingen met hoge temperaturen, blootstelling aan plasma, corrosieve chemie en herhaalde procescycli.
Voordat de productiewafels de proceskamer binnenkomen, worden SiC-dummywafels gebruikt om de kamertemperatuur, de gasstroomverdeling, de plasmadichtheid en de drukomstandigheden te stabiliseren. Dit helpt procesdrift te verminderen en verbetert de consistentie van wafer tot wafer.
SiC-dummywafels worden veel gebruikt tijdens gereedschapsinstallatie, preventief onderhoud en receptconfiguratie en stellen ingenieurs in staat de processtabiliteit te verifiëren zonder dure productiewafels in gevaar te brengen.
In batchverwerkingssystemen kunnen dummywafels ongebruikte wafelsleuven innemen om een uniforme thermische belasting en plasmasymmetrie te behouden, randeffecten te minimaliseren en waardevolle apparaatwafels te beschermen tegen instabiliteit of vervuiling.
Ideaal voor etsproeven, afzettingsafstemming, implantatietests en kamermatchingstoepassingen waarbij herhaalde procescycli vereist zijn.
Siliciumcarbide biedt een aanzienlijk hogere thermische geleidbaarheid dan conventioneel silicium, waardoor een snellere warmteoverdracht en verbeterde temperatuuruniformiteit tijdens thermische verwerking mogelijk is.
Dit vermindert:
SiC behoudt een uitstekende maatvastheid bij hoge temperaturen, waardoor het zeer geschikt is voor:
SiC vertoont een uitstekende weerstand tegen zuren, logen en agressieve halfgeleiderchemie. Afgezette films kunnen vaak selectief worden verwijderd terwijl het wafersubstraat behouden blijft, waardoor meerdere hergebruikcycli mogelijk zijn.
Vergeleken met conventionele siliciumwafels biedt SiC:
| Eigendom | SiC dummywafel | Silicium wafeltje |
|---|---|---|
| Dikte | 3,21 g/cm³ | 2,33 g/cm³ |
| Bandafstand | 3,26 eV | 1,12 eV |
| Thermische geleidbaarheid | Hoog | Gematigd |
| Mohs-hardheid | 9.2 | 7,0 |
| Buigsterkte | 590 MPa | 150–200 MPa |
| Young-modulus | 450 GPa | 200 GPa |
| Thermische stabiliteit | Uitstekend | Gematigd |
| Chemische weerstand | Uitstekend | Beperkt |
✔ Verbeterde kamerstabiliteit
✔ Minder processchommelingen
✔ Verbeterde thermische uniformiteit
✔ Bescherming voor hoogwaardige productiewafels
✔ Lagere verbruikskosten door hergebruik
✔ Geschikt voor agressieve halfgeleideromgevingen
✔ Lange levensduur bij herhaalde thermische cycli
Ja. Vanwege hun uitstekende chemische bestendigheid en mechanische duurzaamheid kunnen SiC-dummywafels doorgaans meerdere keren worden hergebruikt na een goede reiniging en inspectie.
Ze worden vaak gebruikt bij:
SiC biedt superieure thermische geleidbaarheid, hogere stijfheid, lagere thermische vervorming en betere weerstand tegen zware verwerkingsomgevingen vergeleken met standaard siliciumwafels.
Ja. Aangepaste diameter, dikte, platte/kerforiëntatie, randontwerp en oppervlaktebehandeling zijn beschikbaar volgens de apparatuurvereisten.