Productdetails
Plaats van herkomst: CHINA
Merknaam: zmkj
Modelnummer: 4h-semi 6h-n,
Betalings- en verzendvoorwaarden
Min. bestelaantal: 1pcs
Prijs: by required
Verpakking Details: Verpakt in een klasse 100 schoon ruimtemilieu, in cassettes van enige wafeltjecontainers
Levertijd: 10-20days
Levering vermogen: 100pcs/months
Materiaal: |
SIC kristal |
Industrie: |
halfgeleiderwafeltje |
Toepassing: |
Geleide halfgeleider, apparaat, machtselektronika, 5G |
Kleur: |
Blauw, Groen, Wit |
Type: |
4H, GESMEERDE 6H, geen gesmeerde, hoge zuiverheid |
Materiaal: |
SIC kristal |
Industrie: |
halfgeleiderwafeltje |
Toepassing: |
Geleide halfgeleider, apparaat, machtselektronika, 5G |
Kleur: |
Blauw, Groen, Wit |
Type: |
4H, GESMEERDE 6H, geen gesmeerde, hoge zuiverheid |
het type 4h-n van 4inch dia100m PROEF de rang sic substraten van de Productierang, de substraten van het Siliciumcarbide voor een halfgeleiderapparaat,
4h-semi 4h-n paste sic vierkante vormwafeltjes aan
Toepassingsgebieden
1 hoge frequentie en hoge machts elektronische dioden van apparatenschottky,
JFET, BJT, Speld, dioden, IGBT, MOSFET
2 optoelectronic apparaten: hoofdzakelijk gebruikt LEIDENE van het substraat materiële (GaN/sic) leiden in van GaN/sic blauwe
Advantagement
• Lage roosterwanverhouding
• Hoog warmtegeleidingsvermogen
• Lage machtsconsumptie
• Uitstekende voorbijgaande kenmerken
• Hoog bandhiaat
Van het het kristalsubstraat van het siliciumcarbide sic het wafeltjecarborundum
DE MATERIËLE EIGENSCHAPPEN VAN HET SILICIUMcarbide
| Productnaam: | Van het siliciumcarbide (sic) het kristalsubstraat | ||||||||||||||||||||||||
| Productomschrijving: | 2-6inch | ||||||||||||||||||||||||
| Technische parameters: |
|
||||||||||||||||||||||||
| Specificaties: | 6H-n-Type 4H het n-Type semi-insulating dia2 „x0.33mm, dia2“ x0.43mm, dia2 ' x1mmt, 10x10mm, Enige 10x5mm werpt of het dubbel werpt, Ra <10a> | ||||||||||||||||||||||||
| Norm die verpakken: | schone ruimte 1000, schone zak 100 of enige doos verpakking |
2. substratengrootte van norm
|
van het het Carbide (sic) Substraat 4 duim van het diameter de Specificatie Silicium |
|||||||||
| Rang | Nul MPD-Rang | Productierang | Onderzoekrang | Proefrang | |||||
| Diameter | 100.0 mm±0.5 mm | ||||||||
| Dikte | 350 μm±25μm (200-500um-de dikte ook is o.k.) | ||||||||
| Wafeltjerichtlijn | Van as: 4.0° naar <1120> ±0.5° voor 4h-n/4h-Si op as: <0001> ±0.5° voor 6h-n/6h-si/4h-n/4h-Si | ||||||||
| Micropipedichtheid | ≤1 cm2 | ≤5 cm2 | ≤15 cm2 | ≤50 cm2 | |||||
| Weerstandsvermogen | 4h-n | 0.015~0.028 Ω•cm | |||||||
| 6h-n | 0.02~0.1 Ω•cm | ||||||||
| 4/6h-Si | ≥1E5 Ω·cm | ||||||||
| Primaire Vlak en lengte | {10-10} ±5.0°, 32,5 mm±2.0 mm | ||||||||
| Secundaire Vlakke Lengte | 18.0mm±2.0 mm | ||||||||
| Secundaire Vlakke Richtlijn | Siliciumgezicht - omhoog: 90° CW. van Eerste vlakke ±5.0° | ||||||||
| Randuitsluiting | 3 mm | ||||||||
| TTV/Bow /Warp | ≤15μm/≤25μm/≤40μm | ||||||||
| Ruwheid | Poolse Ra≤1 NM, CMP Ra≤0.5 NM | ||||||||
| Barsten door hoge intensiteitslicht | Niets | 1 toegestaan, ≤2 mm | Cumulatieve lengte ≤ 10mm, enige length≤2mm | ||||||
| Hexuitdraaiplaten door hoge intensiteitslicht | Cumulatief gebied ≤1% | Cumulatief gebied ≤1% | Cumulatief gebied ≤3% | ||||||
| Polytypegebieden door hoge intensiteitslicht | Niets | Cumulatief gebied ≤2% | Cumulatief gebied ≤5% | ||||||
| Krassen door hoge intensiteitslicht | 3 krassen aan 1×wafer-diameter cumulatieve lengte | 5 krassen aan 1×wafer-diameter cumulatieve lengte | 5 krassen aan 1×wafer-diameter cumulatieve lengte | ||||||
| randspaander | Niets | 3 toegestaan, ≤0.5 mm elk | 5 toegestaan, ≤1 mm elk | ||||||
| Verontreiniging door hoge intensiteitslicht | Niets | ||||||||
Sic wafeltje & baren 2-6inch en andere aangepaste grootte kan ook worden verstrekt.
3.Pictures van leveringsproducten voordien
A: halfgeleiderwafeltjes en Optische lens, spiegels, vensters, filters, prisma's
A: In het algemeen is de levertijd ongeveer één maand voor douane veroorzaakte optics.except-voorraaddegenen of wat speciale optica.
A: Wij kunnen vrije steekproeven verstrekken als wij voorraadoptica als uw verzoek hebben, terwijl de douane geproduceerde steekproeven niet vrij zijn.
MOQ is 10pcs voor het grootste deel van wafeltje of lens, terwijl MOQ slechts ééndelig zou kunnen zijn als u een element in grote afmeting nodig hebt.
T/T, L/C, VISUM, Paypal, Alipay of Onderhandeling.
