SHANGHAI FAMOUS TRADE CO.,LTD 86-1580-1942596 eric_wang@zmsh-materials.com
Dummy Grade  6Inch Sic Substrate Wafer Dia150mm 4H-N 500mm Thickness

Proef het Wafeltjedia150mm Dikte 4h-n 500mm van het Rang6inch sic Substraat

  • Hoog licht

    sic wafeltje

    ,

    sic substraat

  • toepassingen
    geleid apparaat, 5G, detector, machtselektronika
  • de industrie
    semicondctorwafeltje
  • materiaal
    halfgeleider sic
  • kleur
    groen of wit of blauw
  • hardheid
    9.0
  • type
    4H, geen-gesmeerd gesmeerde 6H,
  • Plaats van herkomst
    China
  • Merknaam
    zmsh
  • Modelnummer
    6inch-001
  • Min. bestelaantal
    1pcs
  • Prijs
    by case by FOB
  • Verpakking Details
    Verpakt in een klasse 100 schoon ruimtemilieu, in cassettes van enige wafeltjecontainers
  • Levertijd
    binnen 40days
  • Levering vermogen
    50pcs/months

Proef het Wafeltjedia150mm Dikte 4h-n 500mm van het Rang6inch sic Substraat

6inch sic substraten, de wafeltjes van 6inch sic, sic kristalbaren,

sic kristalblok, sic halfgeleidersubstraten, het Wafeltje van het Siliciumcarbide

 

6 duimdiameter het Substraatspecificatie, van het Siliciumcarbide (sic)  
Rang Nul MPD-Rang Productierang Onderzoekrang Proefrang
Diameter 150.0 mm±0.2mm
ThicknessΔ 350 μm±25μm of 500±25un
Wafeltjerichtlijn Van as: 4.0° naar< 1120=""> ±0.5° voor 4 H-N On as: <0001> ±0.5° voor 6h-si/4h-Si
Primaire Vlakte {10-10} ±5.0°
Primaire Vlakke Lengte 47.5 mm±2.5 mm
Randuitsluiting 3 mm
TTV/Bow /Warp ≤15μm/≤40μm/≤60μm
Micropipedichtheid ≤1 cm2 ≤5 cm2 ≤15 cm2 ≤100 cm2
Weerstandsvermogen 4h-n 0.015~0.028 Ω·cm
4/6h-Si ≥1E5 Ω·cm
Ruwheid Poolse Ra≤1 NM
CMP Ra≤0.5 NM
Barsten door hoge intensiteitslicht Niets 1 toegestaan, ≤2 mm Cumulatieve lengte ≤ 10mm, enige length≤2mm
Hexuitdraaiplaten door hoge intensiteitslicht Cumulatief gebied ≤1% Cumulatief gebied ≤2% Cumulatief gebied ≤5%
Polytypegebieden door hoge intensiteitslicht Niets Cumulatieve area≤2% Cumulatieve area≤5%
Krassen door hoge intensiteitslicht 3 krassen aan 1×wafer-diameter cumulatieve lengte 5 krassen aan 1×wafer-diameter cumulatieve lengte 5 krassen aan 1×wafer-diameter cumulatieve lengte
Randspaander Niets 3 toegestaan, ≤0.5 mm elk 5 toegestaan, ≤1 mm elk
Verontreiniging door hoge intensiteitslicht Niets
Proef het Wafeltjedia150mm Dikte 4h-n 500mm van het Rang6inch sic Substraat 0
Omdat het 6inch-groottekristal &process (omwikkeld en oppoetsend) technische moeilijkheden kweekt, kunnen wij enkel de Proefrang van 6inch als gemeenschappelijke producten verstrekken in de Rang van 30days en van de Productie maar het moeten voor 90days worden gereserveerd.
 
 
Ongeveer ons bedrijf
Bepaalt van BEROEMD de HANDELSco. van SHANGHAI, Ltd in de stad van Shanghai de plaats, die de beste stad van China is, en onze fabriek wordt opgericht in Wuxi-stad in 2014.
Wij specialiseren ons in de verwerking van een verscheidenheid van materialen in wafeltjes, substraten en custiomized optisch die glas parts.components wijd op elektronika, optica, opto-elektronica en veel andere gebieden wordt gebruikt. Wij hebben ook nauw met vele binnenlandse en overzee universiteiten, onderzoeksinstellingen samengewerkt en de bedrijven, verlenen aangepaste producten en de diensten voor hun R&D-projecten.
Het is onze visie aan het handhaven van een goede verhouding van samenwerking met onze alle klanten door onze goede reputatiaons.
Proef het Wafeltjedia150mm Dikte 4h-n 500mm van het Rang6inch sic Substraat 1Proef het Wafeltjedia150mm Dikte 4h-n 500mm van het Rang6inch sic Substraat 2Proef het Wafeltjedia150mm Dikte 4h-n 500mm van het Rang6inch sic Substraat 3