logo
Goede prijs  online

details van de producten

Created with Pixso. Huis Created with Pixso. PRODUCTEN Created with Pixso.
Sic Substraat
Created with Pixso. 6 inch N-type 6H Siliciumcarbide Epitaxie Wafel met 350um Dikte voor MEMS en UV Sensoren

6 inch N-type 6H Siliciumcarbide Epitaxie Wafel met 350um Dikte voor MEMS en UV Sensoren

Merknaam: ZMSH
Prijs: fluctuate with market
Leveringstermijn: 2-4 weken
Betalingsvoorwaarden: T/T
Gedetailleerde informatie
Polytype:
6u
Geleidbaarheid:
N-type
Oppervlakteafwerking:
SSP/DSP, CMP/MP
Oriëntatie:
4°naar <11-20>±0,5°
Toepassingen:
Grafeengroei/MEMS/UV-sensoren
Markeren:

6 inch N-type SiC epitaxie wafel

,

350um SiC substraat voor MEMS

,

6H polytype SiC wafel voor grafeengroei

Productomschrijving

SiC-wafers Productbeschrijving:

6 inch N-type 6H Siliciumcarbide Epitaxie Wafel met 350um Dikte voor MEMS en UV Sensoren 0        6 inch N-type 6H Siliciumcarbide Epitaxie Wafel met 350um Dikte voor MEMS en UV Sensoren 1

Onze 6H-Polytype N-Type Siliciumcarbide Epitaxiale Wafer is ontworpen voor hoogwaardige opto-elektronica, sensoren voor zware omstandigheden en geavanceerd materiaalonderzoek. Dit 6-inch (150 mm) substraat heeft een precisie dikte van 350 µm, wat superieure mechanische stabiliteit biedt voor complexe microfabricage.
Hoewel 4H-SiC domineert in vermogenselektronica, blinkt het 6H-polytype uit in UV-fotodetectie, grafeen sublimatiegroei en MEMS bij hoge temperaturen vanwege zijn unieke bandgap van 2,96 eV en smaragdgroene optische helderheid. Elke wafer wordt geleverd met een Epi-Ready, spiegelgepolijste afwerking, wat minimale oppervlakteruwheid garandeert voor kritische CVD-processen.
Stikstof-gedoopt voor betrouwbare geleidbaarheid, is deze wafer de industriestandaard voor onderzoekers en luchtvaartingenieurs die een chemisch inert, stralingsbestendig platform nodig hebben. Perfect voor SBD's van de volgende generatie in gespecialiseerde sensoren of optische toepassingen met hoge index.
 
 
Kenmerken:


6 inch N-type 6H Siliciumcarbide Epitaxie Wafel met 350um Dikte voor MEMS en UV Sensoren 2        6 inch N-type 6H Siliciumcarbide Epitaxie Wafel met 350um Dikte voor MEMS en UV Sensoren 3

 

1. De diameter van 150 mm (6 inch) is de huidige industriestandaard voor de overgang van laboratoriumonderzoek naar pilotproductie. Met een precisie dikte van 350 μm bieden deze wafers de ideale balans tussen structurele stijfheid en thermische weerstand. Deze specifieke dikte is ontworpen om kromtrekken en doorbuigen tijdens epitaxiale groei bij hoge temperaturen te minimaliseren, zodat de wafer plat blijft en compatibel is met geautomatiseerde hanteringsapparatuur in moderne halfgeleiderfabricagelijnen.
 
2. Elke wafer ondergaat geavanceerde Chemical Mechanical Polishing (CMP) om een "Epi-Ready" oppervlak met een ruwheid van sub-nanometer te bereiken. Dit ultra-gladde startpunt is cruciaal voor het "step-flow" groeimechanisme dat vereist is in 6H-SiC CVD-processen. Door oppervlaktekrassen en sub-oppervlakteschade te elimineren, zorgt deze wafer voor een hoogwaardige kristalinterface, wat een verplicht kenmerk is voor onderzoekers die epitaxiaal grafeen kweken of gespecialiseerde ultraviolette (UV) fotodiodes en zonlicht-blinde sensoren ontwikkelen.
 
3. Het 6H polytype heeft een unieke bandgap van 2,96 eV, waardoor het van nature transparant en chemisch inert is. In tegenstelling tot standaard silicium kan dit materiaal werken in extreme omgevingen met hoge straling, corrosieve chemicaliën of temperaturen boven 500°C. Dit maakt de wafer een essentieel platform voor MEMS en luchtvaartcomponenten in zware omstandigheden. De stikstofdotering zorgt voor consistente N-type geleidbaarheid, waardoor betrouwbare ohmse contacten mogelijk zijn in gespecialiseerde verticale apparaten die optische helderheid met een hoge index vereisen.
 
Toepassingen:

1. MEMS voor zware omstandigheden. De 6H-SiC N-type wafer is een ideaal substraat voor Micro-Elektromechanische Systemen (MEMS) die onder extreme omstandigheden werken. De uitzonderlijke mechanische hardheid en chemische inertie maken de fabricage mogelijk van druksensoren en accelerometers die betrouwbaar functioneren bij temperaturen boven 500°C. Deze stralingsbestendige apparaten zijn essentieel voor "downhole" olie- en gasexploratie, evenals voor realtime monitoring in luchtvaartturbinemotoren.


2. UV-sensoren met hoge gevoeligheid. Door gebruik te maken van zijn brede bandgap van 2,96 eV, wordt deze wafer gebruikt om "zonlicht-blinde" ultraviolette (UV) detectoren te creëren. Deze sensoren zijn van nature transparant voor zichtbaar licht, maar zeer gevoelig voor UV-straling. Dit kenmerk is cruciaal voor vlamdetectiesystemen in industriële ketels en ontvangers voor raketpluimwaarschuwingen, waarbij het apparaat hoogenergetische signaturen moet onderscheiden van achtergrondzonlicht zonder de noodzaak van dure optische filters.

 
3. Epitaxiale grafeengroei. Voor de halfgeleideronderzoeksgemeenschap is 6H-SiC een toonaangevend platform voor het kweken van grootschalig, hoogwaardig grafeen via thermische sublimatie. Wanneer de wafer bij extreme temperaturen in een gecontroleerd vacuüm wordt verwarmd, verdampen siliciumatomen van het oppervlak, waardoor georganiseerde koolstoflagen achterblijven. De 6H kristalstapeling biedt een stabiele, rooster-gematcheerde fundering voor het creëren van hogesnelheidstransistoren en kwantumweerstandstandaarden van de volgende generatie.
 
 

Technische parameters:

Materiaal: SiC Monokristal met epitaxiaal-klaar oppervlak
Diameter: 6 inch/101,6 mm
Polytype: 6H-N
Oppervlakteafwerking: DSP, CMP/MP
Oppervlakteoriëntatie: 4° richting <11-20>±0,5°
Verpakking: In cassettebox of enkele wafercontainers

 

6 inch N-type 6H Siliciumcarbide Epitaxie Wafel met 350um Dikte voor MEMS en UV Sensoren 4
 

Maatwerk:

Wij bieden veelzijdige geometrische aanpassingen. We kunnen de dikte van de wafer aanpassen en verschillende off-cut oriëntaties aanbieden - variërend van standaard 4° tilts tot on-axis cuts - om aan uw epitaxiale groeirecept te voldoen. We bieden ook verschillende doteringsopties, waarbij we de weerstandsniveaus aanpassen om zowel N-type geleidbaarheid voor EV-vermogensmodules als Semi-Isolerende structuren voor hoogfrequente RF-toepassingen te ondersteunen. Door onze groeicycli te verfijnen, richten we ons op het leveren van de elektrische consistentie die nodig is voor stabiele, hoogwaardige apparaten.

Veelgestelde vragen:

6 inch N-type 6H Siliciumcarbide Epitaxie Wafel met 350um Dikte voor MEMS en UV Sensoren 5

V: Betekent "Research Grade" (R-Grade) dat de wafer gebroken is?

A: Nee. Een R-Grade wafer is fysiek intact en structureel 4H-SiC. Het heeft echter doorgaans een hogere micropipe-dichtheid of iets meer oppervlakte "putjes" dan Prime Grade. Hoewel het niet betrouwbaar is voor massaproductie van commerciële chips met hoge spanning, is het een kosteneffectieve keuze voor universitair testen, polijstproeven of apparatuurkalibratie waarbij 100% chipopbrengst niet vereist is.

 

V: Waarom is Siliciumcarbide zoveel duurder dan gewoon Silicium?

A: Het komt grotendeels neer op hoe moeilijk het is om te "groeien" en te "snijden". Terwijl Siliciumkristallen in een paar dagen tot enorme 12-inch staven kunnen worden gegroeid, duurt het bijna twee weken om SiC-kristallen te groeien en resulteren ze in veel kleinere maten. Omdat SiC bijna zo hard is als diamant, vereist het snijden en polijsten ervan gespecialiseerde, dure diamant-getipte gereedschappen en processen onder hoge druk. U betaalt voor een materiaal dat veel hogere hitte en spanningen overleeft dan gewoon Silicium kan weerstaan.

 

V: Moet ik de wafers opnieuw polijsten voordat ik ze gebruik?

A: Nee, als u "epi-ready" wafers bestelt. Deze hebben al chemisch mechanisch polijsten ondergaan, wat betekent dat het oppervlak atomair glad is en klaar voor uw volgende productiestap. Als u MP- of "Dummy"-wafers koopt, hebben deze microscopische krassen en vereisen ze verder professioneel polijsten voordat u er werkende chips op kunt bouwen.

 

Gerelateerd product:

 

6 inch N-type 6H Siliciumcarbide Epitaxie Wafel met 350um Dikte voor MEMS en UV Sensoren 6

Siliciumcarbide Wafer 4 inch dia x 350um 4H-N type P/R/D grade MOSEFTs/SBD/JBS