met een breedte van niet meer dan 15 mmvan geïntegreerde schakelingen en MEMS-sensoren tot krachtoestellen, fotonica en geavanceerde verpakkingen,de diameter en dikte van een siliciumwafer hebben een directe invloed op de compatibiliteit van de apparatuur, mechanische stabiliteit, procesopbrengst en productiekosten.
Onder commercieel verkrijgbare siliciumsubstratenWafers van 100 mm, 150 mm, 200 mm en 300 mmElke diameter is gekoppeld aan typische dikte normen en verschillende toepassingsscenario's.
Deze handleiding legt de gemeenschappelijke standaarden voor de diameter en dikte van siliciumwafers uit, waarom de dikte toeneemt met de wafergrootte,en hoe de juiste wafer specificatie voor verschillende halfgeleider toepassingen te selecteren.
![]()
De diameter van de siliciumwafer bepaalt het bruikbare oppervlak dat beschikbaar is voor de fabricage van het apparaat.
Een grotere wafer kan meer halfgeleidermatrijzen opnemen tijdens dezelfde verwerkingscyclus.Dit kan de productie-efficiëntie aanzienlijk verbeteren en de productiekosten per chip verlagen..
De meest voorkomende commerciële waferdiameters zijn:
Kleine wafers zoals 2-inch en 3-inch substraten worden nog steeds gebruikt in onderzoekslaboratoria en bepaalde speciale halfgeleidertoepassingen, maar ze komen minder vaak voor in de moderne industriële productie.
De overgang naar grotere wafers heeft geleidelijk plaatsgevonden naarmate de apparatuur voor de fabricage van halfgeleiders geavanceerder is geworden.
Voor grotere wafers zijn echter geavanceerdere manipulatiesystemen, poetsprocessen en productieapparatuur nodig.
Om deze reden is het kiezen van een waferdiameter niet alleen een kwestie van het kiezen van de grootste beschikbare maat.
De volgende waarden geven de algemeen gebruikte nominale diktes voor standaard siliciumwafers weer.
| Waferdiameter | Gewone inch grootte | Typische dikte |
|---|---|---|
| 100 mm | 4 inch | ongeveer 525 μm |
| 150 mm | 6 inch | ongeveer 675 μm |
| 200 mm | 8 inch | ongeveer 725 μm |
| 300 mm | 12 inch | ongeveer 775 μm |
Deze waarden moeten worden beschouwd als typische sectorreferenties in plaats van als universele eisen.
De werkelijke waferdikte kan variëren afhankelijk van:
Op maat gemaakte siliciumwafers kunnen ook worden vervaardigd met diktes die aanzienlijk verschillen van de standaardwaarden.
Een100 mm siliconen wafer, gewoonlijk een4 inch siliconen wafer, wordt nog steeds veel gebruikt voor onderzoek, MEMS, sensoren en speciale halfgeleiderapparaten.
De gemeenschappelijke nominale dikte is ongeveer:
525 μm
Er zijn ook vaak aangepaste diktes verkrijgbaar.
In vergelijking met grotere wafers bieden 100 mm wafers verschillende praktische voordelen.
Ze vereisen minder dure apparatuur en zijn relatief gemakkelijk te hanteren tijdens laboratorium- of proefprocessen.
Voor bedrijven die nieuwe halfgeleiderapparaten ontwikkelen, kan het gebruik van 100 mm-wafers de kosten van experimentele productie verlagen.
Zij zijn vooral nuttig wanneer het productievolume relatief klein is.
100 mm siliciumwafers worden vaak gebruikt voor:
Veel aangepaste waferspecificaties zijn ook beschikbaar in deze diameter vanwege het brede scala aan onderzoekstoepassingen.
Een150 mm siliconen wafer, ook wel bekend als een6 inch wafer, is een belangrijke overgang tussen laboratoriale substraten en industriële wafers met een hoger volume.
De gemeenschappelijke nominale dikte is ongeveer:
675 μm
Afhankelijk van het productieproces kunnen ook aangepaste dikte-specificaties worden aangevraagd.
Hoewel grotere wafergroottes beschikbaar zijn, blijven veel gevestigde halfgeleiderproductielijnen met 150 mm-apparatuur werken.
Het vervangen van een hele productielijn voor halfgeleiders door grotere waferapparatuur vereist aanzienlijke investeringen.
Als gevolg daarvan blijven 150 mm-wafers belangrijk voor volwassen halfgeleidertechnologieën.
De meest voorkomende toepassingen zijn:
Voor de productie van middelgrote hoeveelheden kunnen 150 mm-wafers een effectief evenwicht bieden tussen productiekosten en productie-efficiëntie.
Een200 mm siliconen wafer, gewoonlijk een8 inch siliconen wafer, is een van de belangrijkste wafergroottes die wordt gebruikt bij de vervaardiging van halfgeleiders.
De standaard nominale dikte is gewoonlijk ongeveer:
725 μm
200 mm-wafers worden veel gebruikt in gevestigde productielijnen voor grote hoeveelheden.
Hoewel geavanceerde halfgeleiderfabrieken steeds vaker 300 mm-wafers gebruiken, blijft het 200 mm-platform uiterst belangrijk voor volwassen halfgeleidertechnologieën.
Veel halfgeleiderproducten vereisen niet de nieuwste procesknooppunten.
Voor deze apparaten kan het gebruik van een productielijn van 200 mm een uitstekende productie-economie opleveren.
200 mm siliciumwafers worden veel gebruikt in:
De groei van elektrische voertuigen, industriële automatisering en sensoren blijft de sterke vraag naar 200 mm halfgeleiderproductie ondersteunen.
Een300 mm siliconen wafer, ook wel een12 inch siliconen wafer, is momenteel het dominante platform voor geavanceerde productie van hoogvolume halfgeleiders.
De standaard nominale dikte is ongeveer:
775 μm
Vanwege de grotere diameter vereisen 300 mm-wafers een grotere dikte om de mechanische stijfheid tijdens de verwerking te behouden.
Het belangrijkste voordeel van een 300 mm wafer is de grote bruikbare oppervlakte.
In vergelijking met een 200 mm-wafer biedt een 300 mm-substraat aanzienlijk meer ruimte voor de fabricage van halfgeleiders.
Hierdoor kunnen fabrikanten tijdens elke productiecyclus meer chips produceren.
Bij zeer grote productievolumes kan dit de verwerkingskosten per matras verlagen.
Wafers van 300 mm worden gewoonlijk gebruikt voor:
De productielijnen voor halfgeleiders van 300 mm vereisen echter een uitgebreide automatisering en zeer hoge kapitaalinvesteringen.
Daarom wordt deze wafergrootte over het algemeen gebruikt door grootschalige halfgeleiderfabrikanten.
Een veelgestelde vraag is waarom grotere siliconen wafers over het algemeen dikker zijn.
De belangrijkste reden is de mechanische stabiliteit.
Naarmate de waferdiameter toeneemt, wordt het substraat gevoeliger voor buiging en vervorming.
Een wafer moet voldoende stijf blijven tijdens stappen van de halfgeleiderverwerking, zoals:
Als een grote wafer te dun is, kan deze overmatig gebogen, vervormd of zelfs mechanisch gebroken raken.
Door de dikte van de wafer te vergroten, wordt de structurele stijfheid verbeterd en wordt het risico op beschadiging bij het hanteren verminderd.
Daarom is een typische 300 mm siliconen wafer aanzienlijk dikker dan een 100 mm wafer.
De nominale dikte alleen beschrijft niet volledig de dimensionale kwaliteit van de wafer.
Koper dient ook aandacht te schenken aandiktevertrouwenenTotaal dikteverschil, algemeen aangeduid als TTV.
De dikte-tolerantie bepaalt de toegestane afwijking van de doelwaferdikte.
Een wafer kan bijvoorbeeld worden gespecificeerd als:
725 ± 20 μm
Dit betekent dat de einddikte van de wafel binnen het vastgestelde bereik moet blijven.
TTV meet het verschil tussen de maximale en minimale waferdikte over het hele substraat.
Een lagere TTV is bijzonder belangrijk bij toepassingen waarbij:
Een wafer kan de juiste gemiddelde dikte hebben, maar toch een overmatige dikte variatie hebben.
Daarom moeten zowel de nominale dikte als de TTV in de kritische waferspecificaties worden opgenomen.
De diktespecificaties moeten gewoonlijk samen met de waferboog en de warp worden geëvalueerd.
Bow beschrijft de afwijking van het wafercentrum van een referentievlak.
Warp vertegenwoordigt de totale afwijking van het oppervlak van de wafer van een vlak referentievlak.
Overmatige boog of warp kan problemen veroorzaken tijdens:
Grotere wafers zijn bijzonder gevoelig voor deze geometrische parameters.
Daarom kunnen toepassingen voor precisie-halfgeleiders strikte limieten vereisen voor TTV, boog en warp.
Standaard waferdiktes zijn handig omdat ze compatibel zijn met gewone halfgeleiderapparatuur.
Veel toepassingen vereisen echter een aangepaste dikte.
Voor gebruik in de volgende toepassingen kunnen op maat gemaakte siliciumwafers worden geproduceerd:
Afhankelijk van de toepassing kunnen wafers mechanisch worden gemalen, chemisch worden gegraveerd of gepolijst om de vereiste uiteindelijke dikte te bereiken.
Ultradunne wafers vereisen vaak tijdelijke binding aan een dragerwafer omdat hun mechanische sterkte onvoldoende wordt voor conventionele behandeling.
Diameter en dikte zijn slechts een deel van de volledige specificatie van siliciumwafers.
De oriëntatie van de kristallen is een andere belangrijke parameter.
De twee meest voorkomende siliciumoriëntatie zijn:
Si (100)
en
Si (111)
(100) silicium wordt veel gebruikt in CMOS-productie, MEMS en veel algemene halfgeleidertoepassingen.
(111) Silicium wordt vaak geselecteerd voor gespecialiseerde halfgeleiderapparaten, onderzoek en bepaalde MEMS-structuren.
De juiste oriëntatie is afhankelijk van de structuur van het apparaat en het fabricageproces.
Silicon wafers kunnen ook worden ingedeeld naar geleidbaarheidstype.
P-type wafers worden gewoonlijk gedopeerd met boor.
Ze bevatten gaten als de meeste ladingsdragers.
N-type siliciumwafers kunnen worden gedopt met elementen zoals:
Elektronen zijn de meeste ladingdragers.
De keuze tussen P-type en N-type silicium is afhankelijk van de architectuur van het halfgeleiderapparaat.
De elektrische weerstand is een andere belangrijke aankoopparameter.
De resistiviteit van siliciumwafers kan variëren van zeer lage waarden voor zwaar gedopeerde substraten tot extreem hoge waarden voor toepassingen met een hoge resistiviteit.
Typische toepassingen die een zorgvuldig gecontroleerde weerstand vereisen zijn:
Bij het aanvragen van een offerte moeten kopers het vereiste weerstandsbereik specificeren in plaats van eenvoudig materiaal van het type P of N te vragen.
Siliciumwafers zijn gewoonlijk verkrijgbaar als:
Het ene oppervlak wordt gepolijst, terwijl de andere zijde relatief ruw blijft.
SSP-wafers worden gewoonlijk gebruikt voor standaard halfgeleiderverwerking en veel onderzoekstoepassingen.
Beide oppervlakken zijn gepolijst.
DSP-wafers zijn vaak vereist voor:
Er moeten ook eisen worden gesteld aan de oppervlaktebuigzaamheid wanneer een hoogwaardige polijst nodig is.
Waferrandidentificatie is geëvolueerd naarmate de waferdiameter is toegenomen.
Kleine siliciumwafers gebruiken vaak flats voor oriëntatie-identificatie.
Grotere wafers gebruiken over het algemeen een inkeping.
Bijvoorbeeld:
De inkeping of het vlak maakt het mogelijk voor halfgeleiderapparatuur om de oriëntatie van het kristal en de uitlijning van de wafer te bepalen.
De correcte oriëntatie is bijgevolg bijzonder belangrijk in geautomatiseerde wafersystemen.
De juiste waferdiameter hangt vooral af van de productieapparatuur en het productievolume.
In de meeste gevallen is de compatibiliteit van de apparatuur de eerste factor die de waferdiameter bepaalt.
Alvorens siliciumwafers te kopen, is het nuttig om een volledige technische specificatie op te stellen.
Belangrijke parameters zijn:
Het verstrekken van deze parameters helpt de waferfabrikant te beoordelen of standaard voorraadmateriaal kan worden gebruikt of een aangepaste verwerking vereist is.
De diameter en de dikte van de siliciumwafer behoren tot de meest elementaire maar toch belangrijke parameters bij de selectie van halfgeleidersubstraten.
De meest gebruikte wafer maten zijn100 mm, 150 mm, 200 mm en 300 mm, met een typische nominale dikte van ongeveer525 μm, 675 μm, 725 μm en 775 μm, respectievelijk.
Kleine wafers blijven waardevol voor onderzoek, MEMS en speciale halfgeleiderproductie, terwijl 200 mm wafers een groot deel van de volwassen industriële halfgeleiderproductie blijven ondersteunen.Ondertussen..., 300 mm wafers domineren de geavanceerde, grote volume halfgeleider fabricage.
Het kiezen van de juiste wafer vereist echter meer dan alleen het kiezen van de diameter en dikte.
De oriëntatie van de kristallen, het type geleidbaarheid, de resistiviteit, de polijstconditie, de TTV, de boog, de warp en de oppervlaktekwaliteit moeten samen worden overwogen.
Voor halfgeleiderfabrikanten, onderzoekslaboratoria en ontwikkelaars van apparateneen duidelijke omschrijving van deze specificaties zorgt ervoor dat de geselecteerde siliciumwafer volledig compatibel is met zowel het fabricageproces als de eisen van het eindtoestel.
met een breedte van niet meer dan 15 mmvan geïntegreerde schakelingen en MEMS-sensoren tot krachtoestellen, fotonica en geavanceerde verpakkingen,de diameter en dikte van een siliciumwafer hebben een directe invloed op de compatibiliteit van de apparatuur, mechanische stabiliteit, procesopbrengst en productiekosten.
Onder commercieel verkrijgbare siliciumsubstratenWafers van 100 mm, 150 mm, 200 mm en 300 mmElke diameter is gekoppeld aan typische dikte normen en verschillende toepassingsscenario's.
Deze handleiding legt de gemeenschappelijke standaarden voor de diameter en dikte van siliciumwafers uit, waarom de dikte toeneemt met de wafergrootte,en hoe de juiste wafer specificatie voor verschillende halfgeleider toepassingen te selecteren.
![]()
De diameter van de siliciumwafer bepaalt het bruikbare oppervlak dat beschikbaar is voor de fabricage van het apparaat.
Een grotere wafer kan meer halfgeleidermatrijzen opnemen tijdens dezelfde verwerkingscyclus.Dit kan de productie-efficiëntie aanzienlijk verbeteren en de productiekosten per chip verlagen..
De meest voorkomende commerciële waferdiameters zijn:
Kleine wafers zoals 2-inch en 3-inch substraten worden nog steeds gebruikt in onderzoekslaboratoria en bepaalde speciale halfgeleidertoepassingen, maar ze komen minder vaak voor in de moderne industriële productie.
De overgang naar grotere wafers heeft geleidelijk plaatsgevonden naarmate de apparatuur voor de fabricage van halfgeleiders geavanceerder is geworden.
Voor grotere wafers zijn echter geavanceerdere manipulatiesystemen, poetsprocessen en productieapparatuur nodig.
Om deze reden is het kiezen van een waferdiameter niet alleen een kwestie van het kiezen van de grootste beschikbare maat.
De volgende waarden geven de algemeen gebruikte nominale diktes voor standaard siliciumwafers weer.
| Waferdiameter | Gewone inch grootte | Typische dikte |
|---|---|---|
| 100 mm | 4 inch | ongeveer 525 μm |
| 150 mm | 6 inch | ongeveer 675 μm |
| 200 mm | 8 inch | ongeveer 725 μm |
| 300 mm | 12 inch | ongeveer 775 μm |
Deze waarden moeten worden beschouwd als typische sectorreferenties in plaats van als universele eisen.
De werkelijke waferdikte kan variëren afhankelijk van:
Op maat gemaakte siliciumwafers kunnen ook worden vervaardigd met diktes die aanzienlijk verschillen van de standaardwaarden.
Een100 mm siliconen wafer, gewoonlijk een4 inch siliconen wafer, wordt nog steeds veel gebruikt voor onderzoek, MEMS, sensoren en speciale halfgeleiderapparaten.
De gemeenschappelijke nominale dikte is ongeveer:
525 μm
Er zijn ook vaak aangepaste diktes verkrijgbaar.
In vergelijking met grotere wafers bieden 100 mm wafers verschillende praktische voordelen.
Ze vereisen minder dure apparatuur en zijn relatief gemakkelijk te hanteren tijdens laboratorium- of proefprocessen.
Voor bedrijven die nieuwe halfgeleiderapparaten ontwikkelen, kan het gebruik van 100 mm-wafers de kosten van experimentele productie verlagen.
Zij zijn vooral nuttig wanneer het productievolume relatief klein is.
100 mm siliciumwafers worden vaak gebruikt voor:
Veel aangepaste waferspecificaties zijn ook beschikbaar in deze diameter vanwege het brede scala aan onderzoekstoepassingen.
Een150 mm siliconen wafer, ook wel bekend als een6 inch wafer, is een belangrijke overgang tussen laboratoriale substraten en industriële wafers met een hoger volume.
De gemeenschappelijke nominale dikte is ongeveer:
675 μm
Afhankelijk van het productieproces kunnen ook aangepaste dikte-specificaties worden aangevraagd.
Hoewel grotere wafergroottes beschikbaar zijn, blijven veel gevestigde halfgeleiderproductielijnen met 150 mm-apparatuur werken.
Het vervangen van een hele productielijn voor halfgeleiders door grotere waferapparatuur vereist aanzienlijke investeringen.
Als gevolg daarvan blijven 150 mm-wafers belangrijk voor volwassen halfgeleidertechnologieën.
De meest voorkomende toepassingen zijn:
Voor de productie van middelgrote hoeveelheden kunnen 150 mm-wafers een effectief evenwicht bieden tussen productiekosten en productie-efficiëntie.
Een200 mm siliconen wafer, gewoonlijk een8 inch siliconen wafer, is een van de belangrijkste wafergroottes die wordt gebruikt bij de vervaardiging van halfgeleiders.
De standaard nominale dikte is gewoonlijk ongeveer:
725 μm
200 mm-wafers worden veel gebruikt in gevestigde productielijnen voor grote hoeveelheden.
Hoewel geavanceerde halfgeleiderfabrieken steeds vaker 300 mm-wafers gebruiken, blijft het 200 mm-platform uiterst belangrijk voor volwassen halfgeleidertechnologieën.
Veel halfgeleiderproducten vereisen niet de nieuwste procesknooppunten.
Voor deze apparaten kan het gebruik van een productielijn van 200 mm een uitstekende productie-economie opleveren.
200 mm siliciumwafers worden veel gebruikt in:
De groei van elektrische voertuigen, industriële automatisering en sensoren blijft de sterke vraag naar 200 mm halfgeleiderproductie ondersteunen.
Een300 mm siliconen wafer, ook wel een12 inch siliconen wafer, is momenteel het dominante platform voor geavanceerde productie van hoogvolume halfgeleiders.
De standaard nominale dikte is ongeveer:
775 μm
Vanwege de grotere diameter vereisen 300 mm-wafers een grotere dikte om de mechanische stijfheid tijdens de verwerking te behouden.
Het belangrijkste voordeel van een 300 mm wafer is de grote bruikbare oppervlakte.
In vergelijking met een 200 mm-wafer biedt een 300 mm-substraat aanzienlijk meer ruimte voor de fabricage van halfgeleiders.
Hierdoor kunnen fabrikanten tijdens elke productiecyclus meer chips produceren.
Bij zeer grote productievolumes kan dit de verwerkingskosten per matras verlagen.
Wafers van 300 mm worden gewoonlijk gebruikt voor:
De productielijnen voor halfgeleiders van 300 mm vereisen echter een uitgebreide automatisering en zeer hoge kapitaalinvesteringen.
Daarom wordt deze wafergrootte over het algemeen gebruikt door grootschalige halfgeleiderfabrikanten.
Een veelgestelde vraag is waarom grotere siliconen wafers over het algemeen dikker zijn.
De belangrijkste reden is de mechanische stabiliteit.
Naarmate de waferdiameter toeneemt, wordt het substraat gevoeliger voor buiging en vervorming.
Een wafer moet voldoende stijf blijven tijdens stappen van de halfgeleiderverwerking, zoals:
Als een grote wafer te dun is, kan deze overmatig gebogen, vervormd of zelfs mechanisch gebroken raken.
Door de dikte van de wafer te vergroten, wordt de structurele stijfheid verbeterd en wordt het risico op beschadiging bij het hanteren verminderd.
Daarom is een typische 300 mm siliconen wafer aanzienlijk dikker dan een 100 mm wafer.
De nominale dikte alleen beschrijft niet volledig de dimensionale kwaliteit van de wafer.
Koper dient ook aandacht te schenken aandiktevertrouwenenTotaal dikteverschil, algemeen aangeduid als TTV.
De dikte-tolerantie bepaalt de toegestane afwijking van de doelwaferdikte.
Een wafer kan bijvoorbeeld worden gespecificeerd als:
725 ± 20 μm
Dit betekent dat de einddikte van de wafel binnen het vastgestelde bereik moet blijven.
TTV meet het verschil tussen de maximale en minimale waferdikte over het hele substraat.
Een lagere TTV is bijzonder belangrijk bij toepassingen waarbij:
Een wafer kan de juiste gemiddelde dikte hebben, maar toch een overmatige dikte variatie hebben.
Daarom moeten zowel de nominale dikte als de TTV in de kritische waferspecificaties worden opgenomen.
De diktespecificaties moeten gewoonlijk samen met de waferboog en de warp worden geëvalueerd.
Bow beschrijft de afwijking van het wafercentrum van een referentievlak.
Warp vertegenwoordigt de totale afwijking van het oppervlak van de wafer van een vlak referentievlak.
Overmatige boog of warp kan problemen veroorzaken tijdens:
Grotere wafers zijn bijzonder gevoelig voor deze geometrische parameters.
Daarom kunnen toepassingen voor precisie-halfgeleiders strikte limieten vereisen voor TTV, boog en warp.
Standaard waferdiktes zijn handig omdat ze compatibel zijn met gewone halfgeleiderapparatuur.
Veel toepassingen vereisen echter een aangepaste dikte.
Voor gebruik in de volgende toepassingen kunnen op maat gemaakte siliciumwafers worden geproduceerd:
Afhankelijk van de toepassing kunnen wafers mechanisch worden gemalen, chemisch worden gegraveerd of gepolijst om de vereiste uiteindelijke dikte te bereiken.
Ultradunne wafers vereisen vaak tijdelijke binding aan een dragerwafer omdat hun mechanische sterkte onvoldoende wordt voor conventionele behandeling.
Diameter en dikte zijn slechts een deel van de volledige specificatie van siliciumwafers.
De oriëntatie van de kristallen is een andere belangrijke parameter.
De twee meest voorkomende siliciumoriëntatie zijn:
Si (100)
en
Si (111)
(100) silicium wordt veel gebruikt in CMOS-productie, MEMS en veel algemene halfgeleidertoepassingen.
(111) Silicium wordt vaak geselecteerd voor gespecialiseerde halfgeleiderapparaten, onderzoek en bepaalde MEMS-structuren.
De juiste oriëntatie is afhankelijk van de structuur van het apparaat en het fabricageproces.
Silicon wafers kunnen ook worden ingedeeld naar geleidbaarheidstype.
P-type wafers worden gewoonlijk gedopeerd met boor.
Ze bevatten gaten als de meeste ladingsdragers.
N-type siliciumwafers kunnen worden gedopt met elementen zoals:
Elektronen zijn de meeste ladingdragers.
De keuze tussen P-type en N-type silicium is afhankelijk van de architectuur van het halfgeleiderapparaat.
De elektrische weerstand is een andere belangrijke aankoopparameter.
De resistiviteit van siliciumwafers kan variëren van zeer lage waarden voor zwaar gedopeerde substraten tot extreem hoge waarden voor toepassingen met een hoge resistiviteit.
Typische toepassingen die een zorgvuldig gecontroleerde weerstand vereisen zijn:
Bij het aanvragen van een offerte moeten kopers het vereiste weerstandsbereik specificeren in plaats van eenvoudig materiaal van het type P of N te vragen.
Siliciumwafers zijn gewoonlijk verkrijgbaar als:
Het ene oppervlak wordt gepolijst, terwijl de andere zijde relatief ruw blijft.
SSP-wafers worden gewoonlijk gebruikt voor standaard halfgeleiderverwerking en veel onderzoekstoepassingen.
Beide oppervlakken zijn gepolijst.
DSP-wafers zijn vaak vereist voor:
Er moeten ook eisen worden gesteld aan de oppervlaktebuigzaamheid wanneer een hoogwaardige polijst nodig is.
Waferrandidentificatie is geëvolueerd naarmate de waferdiameter is toegenomen.
Kleine siliciumwafers gebruiken vaak flats voor oriëntatie-identificatie.
Grotere wafers gebruiken over het algemeen een inkeping.
Bijvoorbeeld:
De inkeping of het vlak maakt het mogelijk voor halfgeleiderapparatuur om de oriëntatie van het kristal en de uitlijning van de wafer te bepalen.
De correcte oriëntatie is bijgevolg bijzonder belangrijk in geautomatiseerde wafersystemen.
De juiste waferdiameter hangt vooral af van de productieapparatuur en het productievolume.
In de meeste gevallen is de compatibiliteit van de apparatuur de eerste factor die de waferdiameter bepaalt.
Alvorens siliciumwafers te kopen, is het nuttig om een volledige technische specificatie op te stellen.
Belangrijke parameters zijn:
Het verstrekken van deze parameters helpt de waferfabrikant te beoordelen of standaard voorraadmateriaal kan worden gebruikt of een aangepaste verwerking vereist is.
De diameter en de dikte van de siliciumwafer behoren tot de meest elementaire maar toch belangrijke parameters bij de selectie van halfgeleidersubstraten.
De meest gebruikte wafer maten zijn100 mm, 150 mm, 200 mm en 300 mm, met een typische nominale dikte van ongeveer525 μm, 675 μm, 725 μm en 775 μm, respectievelijk.
Kleine wafers blijven waardevol voor onderzoek, MEMS en speciale halfgeleiderproductie, terwijl 200 mm wafers een groot deel van de volwassen industriële halfgeleiderproductie blijven ondersteunen.Ondertussen..., 300 mm wafers domineren de geavanceerde, grote volume halfgeleider fabricage.
Het kiezen van de juiste wafer vereist echter meer dan alleen het kiezen van de diameter en dikte.
De oriëntatie van de kristallen, het type geleidbaarheid, de resistiviteit, de polijstconditie, de TTV, de boog, de warp en de oppervlaktekwaliteit moeten samen worden overwogen.
Voor halfgeleiderfabrikanten, onderzoekslaboratoria en ontwikkelaars van apparateneen duidelijke omschrijving van deze specificaties zorgt ervoor dat de geselecteerde siliciumwafer volledig compatibel is met zowel het fabricageproces als de eisen van het eindtoestel.